【臺灣新竹】深耕于開發內存測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek,簡稱 iSTART),宣布 SRAM 的測試與修復整合性電路開發環境 -START 獲得聯陽半導體(ITE,簡稱聯陽)采用。芯測科技的 START 解決方案透過可支持 Stand-Alone SRAM 的 Soft-Repair 技術來修復損壞內存,不需要使用額外備援內存,且不增加芯片成本,其電路面積也較小,可幫助客戶提升良率并降低開發成本 。

 

芯測科技(iSTART)所研發的內存測試與修復整合性電路開發環境 -START 是 Tool-Based 的解決方案,可自動生成內嵌(Built-in)內存測試和修復電路并導入客戶設計中,其產生的電路面積小并可以提供客制化功能設計協助。而 START 中 Soft-Repair 修復方式利用沒有使用到的 SRAM(Stand-Alone SRAM)作為內存修復時需要的備援內存。特性為不需要額外的非揮發性內存與控制電路來儲存修復相關設定信息,因此可以節省整體芯片的面積,且芯片效能也不會被非揮發性內存的訪問速度所局限。此外,芯測科技的產品工具友善度極高,再加上圖形用戶界面(GUI),大大提升使用方便性,在配合技術人員的實時支持,可快速解決客戶不同需求,協助客戶提高設計效率并滿足客戶不同應用的需求,更大幅提升芯片良率與降低芯片開發成本;再加上也實現硅晶驗證(Silicon-Proven)的紀錄,代表芯測的產品已完全達到業界要求,亦不會被制程是否支持備援內存模塊而限制,大大提升設計的彈性。

 

關于聯陽半導體:

聯陽半導體股份有限公司 (ITE Tech. Inc.,以下簡稱聯陽) 成立于 1996 年,總公司設在新竹科學工業園區,是一家專業的 Fabless IC 設計公司, 早期深耕 PC 及 NB 控制芯片的開發設計,其 Super I/O (輸出入芯片)及 Keyboard and Embedded Controller 芯片技術已是全球領導者, 客戶群涵蓋各主要個人計算機制造廠商。隨著公司穩健發展,聯陽逐漸擴展產品及技術領域,核心技術涵蓋 High Speed Serial Interface、 Video Codec、Touch Sensing、Surveillance、OFDM、Sensor Fusion 等。